粒子の画像（投影像）を直接観察して大きさや形を解析する方法。古くから顕微鏡法として検討されてきたが，電子顕微鏡の普及によりサブミクロン以下の解析が可能となってきた。視野内の直接測定にしろ，写真画像の測定にしろ，以前はスケールを用いて手作業で解析していたが，最近は画像解析装置に取り込んで各種のソフトウェアで迅速に測定できるようになった。他法に比べてサンプル量がきわめて少ないので偏析のないようなサンプルの作製，計測数の統計的検討が必要である。また，画像の収差，たとえば電子顕微鏡の場合は装置の表示するスケールバーをもとに倍率を決めているが，ワーキングディスタンスの違いにより同機種であっても装置差が生ずる場合があるので注意を要する。しかし，微細な粒子の形状や分散状態を直接観察することができる利点があり，他の原理の測定装置の構成基準になりえるのではないかとも期待される。