圧密における圧縮ケークの空隙容積の減少が，ケーク圧縮圧力の増加に即応して生じる部分（一次圧密）と時間的に遅れて生じる部分（二次圧密またはクリープ変形）の二つからなると仮定したモデル。前者の一次圧密は図に示したテルツァギーモデルで近似でき，粒子層のレオロジー的特性をスプリングのみで表わし，ケーク圧縮圧力が増加すると，粒子構造を表わすスプリングはその圧力に対応した状態まで瞬時に変化するものとする。また，後者の二次圧密は図に示したフォークトモデルで表わされる。

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