光，X線，その他の電磁波と浮遊微粒子との干渉，すなわち散乱や回折現象により，粒子の大きさや分布を求める方法の総称である。原理的に新しいものではないが，レーザー技術やエレクトロニクス，コンピュータ技術の進歩普及により，多くの測定装置が開発され市販されている。これらを分類すると，

1. 粒子による光の散乱光強度から粒子の体積を求める，
2. 粒子群による電磁波の散乱，または回折強度から粒子径分布を求める，
3. レーザ一光のような可干渉波を用いて，運動している粒子の速度をドップラー効果で測定し，粒子の運動法則に基づいて解析する，

などである。これらの方法の利点としては，瞬間的に情報が得られるために，連続計測が可能であることなどがあげられるが，欠点は，粒子の屈折率や散乱角，粒子径，形状などのわずかな変化に敏感に反応することであり，そのために誤った結果を導くことがあることである。